BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)概述：
? ?英國abi_BM8600電路板故障檢測儀可提供多品種的專業(yè)電路板測試、電路板檢測的多功能電路板故障診斷系統(tǒng)。由硬件測試平臺、可編程軟件測試平臺、測試夾具（含夾具、治具）組成。硬件測試平臺由測試單元組成，可根據(jù)測試要求擴(kuò)充測試單元進(jìn)而擴(kuò)充系統(tǒng)的測試功能和測試通道。軟件測試平臺可以通過代碼和非代碼編程方式完成測試程序編程，實(shí)現(xiàn)測試過程的數(shù)據(jù)和步驟的存檔保留，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測試程序，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)軟件自動化測試，提高排查故障的準(zhǔn)確率和系統(tǒng)的測試效率。

一、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)構(gòu)成：
系統(tǒng)構(gòu)成概述：

1.系統(tǒng)硬件測試平臺：（各個(gè)測試單元可根據(jù)測試需要擴(kuò)充測試模塊以達(dá)到需要的測試通道）

1)多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴(kuò)充：2048路測試通道；

2)模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）；

3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；

4)三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴(kuò)充：2048路測試通道；

5)可編程程控電源單元：可根據(jù)測試需要擴(kuò)充電源通道

6)硬件測試框架；

2.可編輯軟件測試平臺：

1)非代碼編程：測試流程管理，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測試程序；

2)代碼編程：自動化、半自動化電路板整板測試，實(shí)現(xiàn)電路板批量化測試、電路板生產(chǎn)檢驗(yàn)測試、電路板一致性分析測試。

3.測試夾具：

1)測試夾具：日常手工測試需要的夾具；

2)治具：電路板整板測試的測試工裝（定制：包括：針床、接口板等）

（一）BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)硬件測試平臺功能：

1.多電源數(shù)字集成電路測試單元（數(shù)字電路測試單元）：可擴(kuò)充：2048路測試通道；單元由ABI-6500模塊*2組成

1)128通道（可擴(kuò)充至2048通道）

2)數(shù)字器件功能測試，管腳電壓，管腳連接狀態(tài)，溫度拐點(diǎn)系數(shù)，數(shù)字V-I測試

3)高級邏輯時(shí)序發(fā)生器

4)電路板故障高級查找功能

5)短路追蹤（通斷測量）

6)未知型號器件的判別

2.模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）;單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測試，矩陣測試；

2)24路測試通道，2通道探筆測試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測試通道；

3)多種器件的V-I, V-T, I-T曲線測試；

4)模擬集成電路及分立器件測試功能。

3.三維立體V-I-F動態(tài)阻抗測試單元（動態(tài)阻抗測試單元）可擴(kuò)充：2048路測試通道;單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規(guī)格：64路測試通道+4路探棒測試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測試模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測試；

3)矩陣測試:對管腳間的V-I（阻抗）曲線測試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值；

5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)可擴(kuò)充到2048路測試通道。

4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）;單元由ABI-6350模塊*1組成

規(guī)格：集成8種常用測試儀器于一體；

1)3通道數(shù)字示波器；

2)2通道任意波形發(fā)生器；

3)2通道數(shù)字電壓表；

4)1通道數(shù)字電流表；

5)1通道數(shù)字電阻表；

6)1通道頻率計(jì)；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定輸出電源。

5.可編程程控電源單元;單元由ABI-1200模塊*1組成

1)規(guī)格：三路可調(diào)輸出，可串并聯(lián)；

2)通道隔離；

3)每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

4)具備過壓、過流保護(hù)

5)遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補(bǔ)償功能

6.硬件測試框架：英國原產(chǎn)19英寸機(jī)架式含計(jì)算機(jī)（可以安裝六組模塊）

（二）可編程軟件測試平臺功能

中英文軟件，可通過編程軟件對模塊進(jìn)行操作控制

1.具有測試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測試流程編輯和記錄功能）

2.測試流程的制定貫穿測試過程，使電路測試過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、 測試流程）?？梢园凑諟y試要求，保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。

3.記錄多種測試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測試結(jié)果等 ?信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試流程中，方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對比，大大簡化了測試中需要重復(fù)對比的工作。

4.軟件在測試流程中允許用戶加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁鏈接、視頻等，提升了測試效率。

5.圖形化測試庫編輯器，圖形化定義輸入激勵(lì)信號及測試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立元器件與電路板測試庫，元器件與整板測試庫擴(kuò)充簡單、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測試庫。

6.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報(bào)告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報(bào)告。測試報(bào)告可以包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。生成用戶測試報(bào)告，方便測試數(shù)據(jù)的保存。

7.*中文、英文測試操作軟件，中文軟件漢化到各級菜單（漢化版），提供免費(fèi)軟件的升級服務(wù)；

8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對測試的每個(gè)步驟進(jìn)行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個(gè)編程命令。

（三）測試夾具功能

1.測試夾具附件，包括：DIL等多種器件測試夾具1套（日常手工測試需要的夾具）；

2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測試的測試工裝（包括：針床、接口板等）；

3.可選配件：SOIC測試夾具、離線測試盒、分立器件測試探筆套裝等。

二、BM-8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)功能特點(diǎn)

1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測試模塊和測試通道。

2.*軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計(jì)，可以通過非編程方式實(shí)現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。以后的測試就

3.按照流程步驟進(jìn)行測試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對比報(bào)告。測試流程的制定貫穿測試過程，并不斷完善測試流程。實(shí)時(shí)將測試經(jīng)驗(yàn)、測試信息擴(kuò)充到測試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動化故障排查及板級系統(tǒng)測試，提高排故和測試效率。

4.*測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報(bào)告。系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測試報(bào)告。測試報(bào)告包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。生成用戶測試報(bào)告，方便測試數(shù)據(jù)的保存。

5.*多電源數(shù)字電路測試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試（可擴(kuò)充到2048通道），每個(gè)通道可以根據(jù)需要分別獨(dú)立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅(qū)動或V/I曲線測量；可進(jìn)行自定義測試，器件與整板的自定義仿真測試。

6.*具備閾值電平臨界點(diǎn)掃描測試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7.系統(tǒng)可對多種器件進(jìn)行端口測試： V-I、V-T、V-I-F測試.二維V-I測試低達(dá)1Hz頻率，三維測試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試。

8.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板，三維立體圖形測量測量方式，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測試。

9.*系統(tǒng)各個(gè)模塊在同一個(gè)專業(yè)平臺操控下同時(shí)運(yùn)行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測試并生成自定義測試報(bào)告。

10.*集成8種測試儀器于一體：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、1通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規(guī)測試儀器可以并發(fā)操作，步驟過程可以記錄存儲并可對比，測試數(shù)據(jù)可以量化，并可以形成測試報(bào)告，可對電路板進(jìn)行仿真測試、調(diào)試測試、一致性測試等整板測試。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，三個(gè)通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計(jì)，自動開啟和關(guān)閉測試需的電源。電源配合其他模塊使用，可實(shí)現(xiàn)整板測試與多電源測試的流程自動化。

12.多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測試庫。可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵(lì)信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。

13.系統(tǒng)含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試等。

14.系統(tǒng)可對多種器件進(jìn)行端口測試：V-I、V-T、I-T測試。測試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.

三、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)單元模塊特點(diǎn)

1.多電源數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊(ABI-6500)

該模塊具有64個(gè)測量通道,可提供多種的測量功能。這些通道可提供故障診斷能力，包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路管腳的連接狀態(tài)和電壓值的測量,以及在非加電情況下使用的V-I曲線測試功能，是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊。系統(tǒng)提供的信息更豐富、更準(zhǔn)確、測試條件更豐富。仿真測試輸入電壓可以根據(jù)需要-10V～+10V之間自己定義，檢測輸出的電平閾值也可以自己定義。ABI-6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷。

2.模擬電路測試功能模塊(ABI-2500)?

在模擬集成電路測試模塊中允許對模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測試。常見的模擬集成電路可以測試，系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)進(jìn)行功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖。在該模塊中還包括了V-I曲線測試功能，電路板或集成電路可在非加電的情況下，得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.。ABI-2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測試庫。

3.三維立體矩陣式V-I-F動態(tài)阻抗混合電路測試模塊（ABI-3400）

規(guī)格：64通道，三維立體V-I-F測試，適合檢測與頻率相關(guān)的器件特性，強(qiáng)大的矩陣式測試，測試通道可擴(kuò)展(以64通道步進(jìn)擴(kuò)展，高達(dá)2048通道)，同步脈沖測試模式，可制定標(biāo)準(zhǔn)的測試流程及步驟。

4.八合一多功能儀表模塊(ABI-6350)?

在八合一多功能儀表模塊中，提供了多種高規(guī)格的測試及測量用的儀表功能在同一模塊之中。此種設(shè)計(jì)方式適合用于教育及一般用途的電子測量使用。其模塊提供了八種常用儀表功能：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、4通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能,來設(shè)計(jì)定制化的儀器操作接口。

5.系統(tǒng)用可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1200)?

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時(shí)電源。其具有三組可調(diào)式隔離電源輸出,三個(gè)通道支持串并聯(lián)，遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測補(bǔ)償，并同時(shí)具有過電壓及過流保護(hù)功能。

四、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)單元模塊主要技術(shù)指標(biāo)

1.多電源數(shù)字集成電路測試模塊: (6500模塊*1個(gè))

1.1測試通道數(shù) : 64測試通道（可擴(kuò)至2048通道）

1.2具有數(shù)字V-I曲線測試功能，64路測試通道（可擴(kuò)至2048通道）

1.3總線隔離信號通道：8通道（4邏輯高+4邏輯低）

1.4可設(shè)定輸出的邏輯信號電平范圍?: -10V?～?+10VDC

1.5具自動掃描目前工作的數(shù)字邏輯電平閾值功能

1.6邏輯時(shí)序發(fā)生器：64通道（可擴(kuò)至2048通道），模式數(shù)：999個(gè)/通道

1.7 64個(gè)通道可以自定義為：輸入（測量）和輸出（驅(qū)動），輸出信號范圍：-10V～+10V，輸入信號范圍：+20V ～ -20VDC

2.模擬電路測試模塊：(2500模塊)

2.1 V-I測試性能

測量通道：2路探棒通道，2路同步脈沖信號通道，24路測試夾具通道，3路分立器件測試通道；

V-I曲線測試掃描電壓范圍：2～50Vp-p；

V-I曲線測試掃描頻率范圍：37.5Hz～12kHz；

V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ；

V-I曲線測試信號波形：正弦波、三角波、斜波；

顯示曲線模式：V-I、V-T、I-T；

測試方式：學(xué)習(xí)對比、探棒實(shí)時(shí)對比、矩陣測試；

同步脈沖信號幅度：-10V～+10V；?

同步脈沖輸出模式：正脈沖、負(fù)脈沖、雙向脈沖、DC；

2.2模擬集成電路及分離組件測試功能

測量通道數(shù)：24個(gè)獨(dú)立測試通道；

驅(qū)動輸出電壓：-12V～+12V；

驅(qū)動輸出電流：200mA；

可量測輸入電壓：±24V；

IC測試封裝型態(tài)：OP放大器、比較器、DACs、ADCs；

IC測試方式：在線測試,?若OPA工作在線性區(qū),?則可自動計(jì)算出放大率(Av)；

晶體管測試能力：晶體管、FET、TRIACS、THYRISTOR；

3.系統(tǒng)用可調(diào)式電源供給模塊功能: (1200模塊)

電源供應(yīng)輸出控制可由軟件來手動控制開關(guān)；

3通道獨(dú)立；

每通道：0～40VDC max, 0～8A max, 40W max；

支持串并聯(lián)，以便增加電壓和電流供應(yīng)；

4.八合一多功能儀表模塊性能：(6350模塊)

?4.1數(shù)字儲存示波器

測試通道：3路測試通道；

帶寬：100MHz；

采樣速率：500MS/s?(25GS/s ERS?模式)；

輸入阻抗：1MΩ；

4.2函數(shù)信號產(chǎn)生器：

測試通道：2通道；

輸出波形：DC、正弦波、方波、三角波、正脈沖、負(fù)脈沖；

輸出頻率范圍：0.5Hz～25MHz；

輸出阻抗：50?；

4.3通用?I/O：

通道數(shù)：8路通用I/O通道；

信道模式：電壓輸出、電壓輸入；

提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL邏輯電平的預(yù)設(shè)值；

4.4電壓表

測量通道：2通道；

直流電壓測量范圍：0～±500V；

交流電壓測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～500V；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；

4.5電流表：

測量通道：1通道；

直流電流測量范圍：0～±10A；

交流電流測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～10A；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；

4.6電阻表：

測量通道：1通道；

測量范圍：0～10MΩ；

連續(xù)性：0Ω～?1kΩ，分辨率：100mΩ；

二極管：測量范圍：0V～2V；分辨率：100μV；測試電流：1mA；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；

4.7頻率計(jì)數(shù)器

測量通道：1路通道+3路DSO共用通道；

頻率測量范圍：通道：1MHz～800MHz；DSO通道：2Hz～100MHz；

輸入阻抗：通道：50Ω；DSO通道：1MΩ；

電壓輸入范圍：通道：±3.3V；DSO通道：±40mV～±8V。；

4.8輔助電源:

電壓輸出：+5V,+3.3V,+12V,-12V；

電流限制：+5V/1A；+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA；

5.三維立體矩陣式V-I-F動態(tài)阻抗混合電路測試模塊? (3400模塊*1個(gè))

5.1測試通道：4路探棒通道，4路同步脈沖通道，64路夾具測試通道；

5.2 V-I曲線掃描電壓范圍：2～50Vp-p（2、5、10、20、50Vp-p）；

5.3 V-I曲線掃描頻率設(shè)定范圍：1Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）；

5.4 V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ（100、1k、10k、100k、1MΩ）；

5.5 三維 V-I-F曲線掃描頻率范圍：10Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）；

5.6 顯示曲線模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

5.7 測試方式：存儲對比、探棒實(shí)時(shí)對比、矩陣測試；

5.8 同步脈沖輸出設(shè)定：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；

5.9 同步脈沖信號幅度：-10V～+10V，最小調(diào)整分辨率0.01V；

五、BM8600電路板故障檢測儀系統(tǒng)主要優(yōu)勢

1.模塊化設(shè)計(jì)：可以自由擴(kuò)充，可拆分，可以滿足不同客戶的需求。模塊化設(shè)計(jì)，可以將整機(jī)拆分、組合成小儀器使用2.軟件具測試流程記憶功能

ABI的BM-8600采用嶄新的測試?yán)砟?，測試流程的制定貫穿測試過程，使電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、檢測流程）。

可以按照測試要求，保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程。

以后的測試就按照標(biāo)準(zhǔn)的流程按步驟進(jìn)行測試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對比報(bào)告。

測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。半熟練的工程人員只需要按部就班的依指示及圖示來操作設(shè)備，便可以完成檢測工作。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。

3.對電路板和集成電路可同時(shí)進(jìn)行多種并發(fā)測試操作。

包括功能測試，V-I曲線測試，溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試，連接狀態(tài)測試，管腳電壓測試。并且提供測試結(jié)果信息，測試效率大大提高。

1）可同一時(shí)間完成多種測試，該測試提供信息豐富，節(jié)省測試時(shí)間。

2）測試項(xiàng)目：集成電路的功能測試、V-I曲線測量、曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)、各個(gè)管腳電壓值測量、管腳連接狀態(tài)測量顯示。

4.圖形化編輯元件測試庫和整板測試庫

采用圖形化編程，方便以后擴(kuò)充元件庫和電路板庫，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫。

圖形化元件測試庫編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷建立起測試庫中沒有的元件庫。

整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)信號及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。

5.可測試拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)

V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。

6.具短路電阻測量功能

短路電阻測量功能：

三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,檢查短路點(diǎn)，可判定線路阻抗及通斷情況。

7.可邏輯電平閾值自動掃描

邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤.

1)邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
2)邏輯電平閾值可以自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤。

邏輯電平閾值自動掃描：邏輯高低電平是一個(gè)范圍，該種方法是確定集成電路在板系統(tǒng)中低能通過的電平具體數(shù)值，該數(shù)值能反映出集成電路驅(qū)動能力的下降問題，方便查找驅(qū)動能力下降的器件。

8.V-T模式可測量器件的開關(guān)時(shí)間特性（配合同步脈沖）

?可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.

?測試時(shí)將設(shè)定好的方波同步到測試信號中，可以觀測到三端器件開關(guān)時(shí)間特性的差異，圖中是高頻狀態(tài)，器件的開關(guān)時(shí)間參數(shù)出現(xiàn)問題，圖中的差異體現(xiàn)了開關(guān)時(shí)間的問題。

9.V-I曲線矩陣測試

分別以每個(gè)管腳為公共端進(jìn)行V-I測試，可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試發(fā)現(xiàn)管腳間的阻抗差異，使測量的信息更豐富準(zhǔn)確。

10.具有分立器件功能測試

1）模擬集成電路測試功能：可對模擬放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應(yīng)管、場效應(yīng)晶體管場效應(yīng)晶體管場效應(yīng)晶體管光耦器件、AD/DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試.

2）可以對模擬器件的參數(shù)指標(biāo)值進(jìn)行在線測量：放大倍率 (AV) CTR值 (電流轉(zhuǎn)換比) 、Vled (內(nèi)部光二極管的導(dǎo)通電壓值、Hfe值 (晶體的電流放大倍率)等參數(shù)值。

11.波套設(shè)計(jì)

八合一多功能儀表6350-示波器功能-波套

?信號波形通過對比

12.將波形保存成測試步驟（生成測試數(shù)據(jù)庫）

13.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板。

14.動態(tài)阻抗分析功能，可以對圖形進(jìn)行電壓、電流參數(shù)的測量

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